6:07
本视频包含了HAPS系统平台的进化史，HAPS-100的五大优势详解以及上电实操示范。
通过芯片生命周期监测与分析获得可行性见解
1:23
本视频展示了SaberRD的最坏情况分析工具（WCA）,如何识别降低指标性能的零部件参数和运行条件组合。解决这些最坏情况点可以实现稳健性设计。请务必在观看视频之后完成实验13。
7:22
新思科技芯片生命周期管理（SLM）解决方案可以为汽车 OEM 厂商提供芯片健康数据和分析，让其深入了解芯片的健康情况，预测芯片的剩余使用寿命，识别和评估维护问题，启用 OTA 修复，并防止未来出现与芯片相关的故障。
3:13
分析和解决零部件上的过应力可以实现稳健性设计。通过几个简单的步骤，SaberRD就可以实现自动化的应力分析。请务必在观看视频之后完成实验15，以完成整个视频培训系列教程。
5:26
本视频介绍了SaberRD的故障仿真和自动化仿真是如何经过ISO26262认证，并提供了一种比人工故障跟踪方法更快速、更全面的新方法。请务必在观看视频之后完成实验14。
6:53
Synopsys Design Compiler NXT 是全球领先的新思科技 Design Compiler 系列发展进展中的全新一代。它继续保持一流的性能，并支持先进工艺节点，能产出更优的PPA和更大的吞吐量，值得您的信赖。
1:30
