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本视频介绍了SaberRD的故障仿真和自动化仿真是如何经过ISO26262认证，并提供了一种比人工故障跟踪方法更快速、更全面的新方法。请务必在观看视频之后完成实验14。
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新思科技芯片生命周期管理（SLM）解决方案可以为汽车 OEM 厂商提供芯片健康数据和分析，让其深入了解芯片的健康情况，预测芯片的剩余使用寿命，识别和评估维护问题，启用 OTA 修复，并防止未来出现与芯片相关的故障。
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在本视频中，您将了解硅工艺技术和3DIC封装的最新进步如何使不同的电阻提取技术成为可能，以及StarRC是如何支持这些技术的。
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本视频以MOSFET为例子，展示了SaberRD功率半导体器件的特征化建模的方法。此方法同样适用于IGBT，BJT等功率器件。请务必在观看视频之后完成实验10。
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变革带来机遇和挑战，也让我们不断创新，引领行业发展。半导体行业正在从单芯片SoC转向多芯片系统，新思科技多裸晶芯片系统解决方案将助力更多合作伙伴持续引领创新之路。
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通过芯片生命周期监测与分析获得可行性见解
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